IEC 60068-2 與 IEC 68-2系列標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2 與 IEC 68-2系列標(biāo)準(zhǔn)并無區(qū)別?；蛘哒f它們實(shí)際上就是一個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)。早期此系列標(biāo)準(zhǔn)稱為 IEC 68-2，而后則改稱為 IEC 60068-2 。編號(hào)的更改一直沒有查到直接的出處和證據(jù)，但在研究相關(guān)的 GB/T 2423 系列國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中初見端倪。GB/T 2423 系列國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中，大約 2000 年以前版本均注明采用 IEC 68-2 系列中標(biāo)準(zhǔn)；其后的修訂版本中則標(biāo)注采用 IEC 60068-2 系列中標(biāo)準(zhǔn)。前后對(duì)比從中發(fā)現(xiàn)在新的版本中，對(duì)早期標(biāo)注采用 IEC 68-2 的標(biāo)準(zhǔn)，改版后的國(guó)標(biāo)版本均將原版本采用的 IEC 標(biāo)準(zhǔn)版本稱之為 IEC 60068-2 。由此得出結(jié)論：IEC 60068-2 與 IEC 68-2 它們實(shí)際上就是一個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)，為何標(biāo)準(zhǔn)順序編號(hào)更改，不得而知。以下隨舉幾例，以作佐證。
1、GB 2423.1-1989 與 GBT 2423.1-2001：
GB 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
2、GB 2423.2-1989 與 GB/T 2423.2-2001：
GB 2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
3、GB/T 2423.50-1999 與 GB/T 2423.50-2012：
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)
GB/T 2423.50-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn)
GB/T 2423.50-2012 標(biāo)準(zhǔn)“前言”中雖沒有明示前版（GB/T 2423.50-1999）采用的 IEC 標(biāo)準(zhǔn)版本，但其指出“本部分與 GB/T 2423.50-1999 相比主要變化”中并無采用 IEC 標(biāo)準(zhǔn)的改變，這也應(yīng)間接說明本版采用的 IEC 標(biāo)準(zhǔn)與上一版相同，即 IEC 60068-2-67：1995 與 IEC 68-2-67：1995 相同。
