Teelong系列溫度沖擊試驗(yàn)箱
一、主要技術(shù)指標(biāo)
工作室尺寸:1000D×1000W×1000H mm,內(nèi)容積約1000L
外形尺寸:約3400D×2150W×2170H mm,不含控制器、測試孔等突出部分。
沖擊范圍:-55℃~+150℃,帶載50kg鋁錠
暴露時間:30min
恢復(fù)時間:≤5min
轉(zhuǎn)換時間:≤15s
溫度波動度:≤±0.5℃、空載
溫度均勻度:≤2℃、空載
溫度偏差:≤±2℃、空載
高溫室預(yù)熱:溫度范圍:+60℃~+200℃,溫度上升時間:常溫→+200℃≤40min
低溫室預(yù)冷:溫度范圍:0℃~-70℃,溫度下降時間:常溫→-65℃≤50min
功率:約125kW
噪音:≤75dB(A),距離箱體正前方1米遠(yuǎn)處距地面1.2米高時測量。
重量:2400Kg
GB/T 2423.1-2008 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)
GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)
GB/T 2423.22-2002 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)
GJB150.3A-2009 高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009 低溫試驗(yàn)
GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
GJB360A-1996 電子及電器元件試驗(yàn)方法 方法107 條件A、B、F
GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備