老化試驗(yàn)房
老化試驗(yàn)房?jī)x器簡(jiǎn)介
老化試驗(yàn)房，又叫高溫老化房、煲機(jī)房和燒機(jī)房,是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。
根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等，通過(guò)此測(cè)試程序可檢杳出有問(wèn)題的產(chǎn)品，是客戶迅速找出問(wèn)題、解決問(wèn)題提供有效手段，充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì),也是針對(duì)于開(kāi)關(guān)電源、手機(jī)充電器、電池、LCD、主板機(jī)、掃描器、LED，生物器材等介面卡等做負(fù)載或溫度老化測(cè)試的一種設(shè)備，此設(shè)備外框架構(gòu)采用保溫庫(kù)板隔間組合而成，配上主配電箱、測(cè)試架、溫度控制器、定時(shí)器、各種電器開(kāi)關(guān)、加溫電熱器、盤架、拉門、循環(huán)風(fēng)機(jī)、排風(fēng)機(jī)、插座等設(shè)備模擬出一種高溫、惡劣環(huán)境（40℃ -70℃±5℃、電源ON-OFF動(dòng)作等），讓產(chǎn)品在此環(huán)境中接上模擬負(fù)載通電運(yùn)作，測(cè)試時(shí)間可在0-99.9小時(shí)內(nèi)任意設(shè)定，通過(guò)此測(cè)試程序可查出有問(wèn)題的產(chǎn)品，是制程、品管必備之設(shè)備。
